huvuddelen
Spektralanalysinstrument (UV-Vis/NIR, FL)
Potentialtitrator・Calfisch fuktititrator
Panelmätare
Differenstryck- och trycksändare
Periferiska instrument
Atomkraftsmikroskop
Elektronmikroskop (SEM/TEM/STEM)
Instrument och mätare
Ultrahög upplösning Short Basefield utsläpp skanning elektronmikroskop SU8700
Ultrahögupplöst utsläpps skannelektronemikroskop SU8600-serien
Ultrahög upplösning fält utsläpp skanning elektronmikroskop Regulus-serien
Transmissionselektronmikroskop HF-3300
Lyckad operation!